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日本日置HIOKI

im7581阻抗分析仪|日置im7581阻抗分析仪特点: 最快0.5ms,覆盖100khz~300mhz的低频 ● 测量频率1mhz~300mhz ● 测量时间:最快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能(dcr测量、hi-z筛选、波形判定) ● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量 主机不
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im7583阻抗分析仪|日置im7583阻抗分析仪特点: 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:最快0.5ms ● 测量频率:1mhz~600mhz ● 测量时间:最快0.5ms(模拟测量时间) ● 基本精度:±0.65% rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能(dcr测量、hi-z筛选、波形判定) ● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号
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im7585阻抗分析仪|日置im7585阻抗分析仪特点: 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:最快0.5ms,测量值偏差0.07% ● 测量频率:1mhz~1.3ghz ● 测量时间:最快0.5ms(模拟测量时间) ● 测量值偏差:0.07%(测量频率1ghz时的代表值) ● 基本精度:±0.65% rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能
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im7587阻抗分析仪|日置im7587阻抗分析仪特点: 可信赖的高端机型3ghz ● 测试电压测量频率:1mhz~3ghz ● 测量时间:最快0.5ms(模拟测量时间) ● 测量值偏差:0.07%(测量频率1ghz时的代表值) ● 基本精度:±0.65% rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小 ● 丰富的接触检查(dcr测量、hi-z筛选、波形判定) ● 分析模
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3504-60lcr测试仪|日置3504-60lcr测试仪特点: 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据c 和d (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用bin的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误,提
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3504-50lcr测试仪|日置3504-50lcr测试仪特点: 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据c 和d (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用bin的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误,提
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3504-40lcr测试仪|日置3504-40lcr测试仪特点: 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据c 和d (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用bin的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误,提
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3511-50lcr测试仪|日置3511-50lcr测试仪特点: 精巧,非常专业,5ms快速测量lcr ● 高速测量:5ms(1khz)或13ms(120hz) ● 高精度: ± 0.08% ● 内置比较器 主机不标配输入用探头/测试夹具。请按照测量用途选择选件中的探头和测试夹具。 3511-50lcr测试仪|日置3511-50lcr测试仪技术参数: 测量参数 │
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im3533lcr测试仪|日置im3533lcr测试仪特点: 应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域 ● 基本精度±0.05%,测量范围广(dc,40hz~200khz,5mv~5v,10μa~50ma)。 ● 在例如c-d和esr这样的混合测量条件下,不间断测试,速度比以往产品快10倍。 ● 内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。 ● (
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